Une faille eSim met en danger deux milliards d’objets connectés

Une faille critique dans la technologie eSIM a été découverte par des chercheurs. Présente sur plus de deux milliards d’appareils IoT, cette vulnérabilité permet d’installer des programmes malveillants et de voler des données. La faille a été colmatée.

Source : www.01net.com